松下新一代传感器将采用新设计
来源:赛斯维传感器网 发表于 2010/6/30
国外媒体报道,松下新一代传感器将采用无间隔微透镜技术。佳能已率先将此技术应用于EOS 50D(包括之后的7D和EOS-1D Mark IV)上。
针对佳能的无间隔微透镜技术,佳能(美国)技术顾问Chuck Westfall曾表示“(采用这种技术)在高ISO范围内噪点水平可实现1至1.5级(stops)优化”。
据悉松下已经准备好将这种采用无间隔微透镜技术的新一代传感器进行量产,由此可以期待将在松下新机型GH2(预计将于9月在Photokina上发布)中看到这些新传感器的应用。目前尚无更多细节消息,我们会继续保持关注。
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